Читать онлайн «Синтез и анализ многослойных оптических систем: Лабораторная работа по курсу ''Квантовая и оптическая электроника''»

Автор Машин А.И.

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ РФ ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ «НИЖЕГОРОДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ им. Н. И. ЛОБАЧЕВСКОГО» ФИЗИЧЕСКИЙ ФАКУЛЬТЕТ Кафедра физики полупроводников и оптоэлектроники СИНТЕЗ И АНАЛИЗ МНОГОСЛОЙНЫХ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ (лабораторная работа по курсу «Квантовая и оптическая электроника») Нижний Новгород, 2007 2 Учебно-методические материалы подготовлены в рамках инновационной образовательной программы ННГУ: Образовательно-научный центр «Новые многофункциональные материалы и нанотехнологии» Национального проекта «Образование» УДК 621. 315. 592:61 Синтез и анализ многослойных оптических систем: Лабораторная работа по курсу «Квантовая и оптическая электроника» / Сост. А. И. Машин, А. В. Ер- шов. – Н. Новгород: ННГУ, 2007. – 21 с. Настоящее описание предназначено для студентов старших курсов физиче- ского факультета ННГУ, обучающихся по специальности 210601 – «Нанотех- нология в электронике». Рис. 2. Составители: докт. физ. -мат. наук, профессор А. И. Машин канд.
физ. -мат. наук, доцент А. В. Ершов Рецензент: докт. физ. -мат. наук, зав. лабораторией электроники твердого тела НИФТИ ННГУ В. Г. Шенгуров Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, 2007 3 Целью настоящей лабораторной работы является развитие практиче- ских навыков, самостоятельного мышления студентов в освоении лекцион- ного курса «Квантовая и оптическая электроника» на примере решения задач об анализе и синтезе многослойных оптических систем. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ Используя явление интерференции в многослойных оптических систе- мах студенту предлагается рассчитать и изготовить оптическое покрытие для управления спектральным составом или волновым фронтом оптического излучения, измерять оптические характеристики полученной структуры. Для выполнения работы студенту предлагается: 1. Установка вакуумного напыления оптических покрытий ВУ-1А с систе- мой фотометрического контроля оптической толщины пленки СФКТ- 751В (ЛОМО) или монитором оптических покрытий на базе спектроско- пов S150-2 (Солар ТИИ); 2. Набор пленкообразующих веществ, различающихся величиной показателя преломления; 3. Персональный компьютер и набор подпрограмм, который позволяет: – определять коэффициенты пропускания и отражения при падении плоской монохроматической волны с частотой ω из внешней среды на покрытие под некоторым углом θ0. Имеется возможность задавать две различные поляризации: электрический вектор лежит в плоскости паде- ния и перпендикулярен этой плоскости; – проводить численную оптимизацию пленочных функционалов; – получать численные решения системы нелинейных алгебраических уравнений. 4.