МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ
ФЕДЕРАЦИИ
САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОСУДАСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ, МЕХАНИКИ И ОПТИКИ
Ю. А. Гатчин, В. Л. Ткалич,
А. С. Виволанцев, Е. А. Дудников
ВВЕДЕНИЕ В МИКРОЭЛЕКТРОНИКУ
Учебное пособие
Санкт-Петербург
2010
УДК 621. 3+538. 9
Гатчин Ю. А. , Ткалич В. Л. , Виволанцев А. С. , Дудников Е. А. «Введение в Микроэлектронику». Учебное пособие. СПб: СПбГУ
ИТМО, 2010. 114с. В учебном пособии рассмотрены физические основы микро-
электроники, интегральные схемы и их технологии производства. Учебное пособие соответствует утвержденным учебным
программам по направлениям 210202 — «Проектирование и техно-
логия электронно-вычислительных средств» для специалистов и
210200. 05 — «Информационные технологии проектирования элек-
тронных средств» для магистров техники и технологии, а также
200100 и 200101 — «Приборостроение» для бакалавров и дипло-
мированных специалистов. Предназначено для студентов и магистров факультетов
КТиУ и ТМиТ, изучающих дисциплины «Физические основы мик-
роэлектроники. Рекомендовано к печати по решению Совета факультета
КТиУ СПбГУ ИТМО от 13. 04. 10 (протокол №9) и решению Совета
факультета ТМиТ СПбГУ ИТМО от 13. 04. 10 (протокол №7)
В 2009 году Университет стал
победителем многоэтапного конкурса,
в результате которого определены 12
ведущих университетов России, кото-
рым присвоена категория «Нацио-
нальный исследовательский универ-
ситет». Министерством образования и
науки Российской Федерации была ут-
верждена Программа развития госу-
дарственного образовательного учре-
ждения высшего профессионального
образования «Санкт-Петербургский государственный университет
информационных технологий, механики и оптики» на 2009–2018 го-
ды. ©Санкт-Петербургский государственный
университет информационных технологий,
механики и оптики, 2010
©Гатчин Ю. А. , Ткалич В. Л. , Виволанцев А. С. ,
Дудников Е. А. , 2010
2
Оглавление
Введение... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... ...
... ... ... 5
Глава 1. Предпосылки появления микроэлектроники и осо-
бенности функционального диагностического контроля
БИС……………………………………………………………………. 9
Глава 2. Основные направления развития электроники…... 12
Глава 3. История развития микроэлектроники
Эволюция интегральных схем (ИС) ……………………………. 16
Глава 4. Теоретический предел микроминиатюризации - фи-
зические ограничения в твердотельной МЭ……………... . . 23
Глава 5. Проблемы диагностического контроля ис…………. 32
Глава 6. Природа и механизмы развития отказов…………... 40
Глава 7. Тестирование бис ЗУ. Предвестники отказов……. . 55
Глава 8. Материалы ИС…………………………………………. . 62
Глава 9. Технологические процессы производства бис……. 68
9. 1. Технологии получения тонких пленок…………………………... ... 68
9. 1. 1. Термическое вакуумное напыление……………………………. . 68
9. 1. 2. Ионное(катодное) распыление…………………………………... . 69
9. 1. 3. Эпитаксия из газовой фазы………………………………………. 72
9. 1. 4. Жидкостная эпитаксия……………………………………………. . 73
9. 1. 5. Молекулярно-лучевая эпитаксия…………………………………73
9. 1. 6. Применение ионных пучков для выращивания тонких аморф-
ных пленок…………………………………………………………………. . 74
9. 1. 7.